美國Calmetrics NI/xx鍍層標準片

簡要描述：

美國Calmetrics NI/xx鍍層標準片專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案，適用于各種品牌的X射線測厚儀(涂鍍層厚度測試儀)。用于標定X射線測厚儀

更新時間：2023-04-24

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詳細介紹

品牌	Calmetrics/美國	貨號	HxNi/xx
規(guī)格	Ni/xx	供貨周期	現(xiàn)貨
主要用途	標定X射線測厚儀	應用領域	環(huán)保,化工,能源,電子/電池
品牌	美國CALMETRICS

　　美國Calmetrics NI/xx鍍層標準片簡介：

　　Calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司，其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。

　　美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務，公司通過ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院)標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學會)標準。

　　其生產(chǎn)的標準片質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好。測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

　　標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片，其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等。可根據(jù)客戶個性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書.